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應用案例
PL熒光光譜測量應用案例
自動晶片激光打標機應用案例
晶片厚度及翹曲度測量設備應用案例
晶片膜厚自動測量及分類機應用案例
產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
自動晶片激光打標機
晶片厚度及翹曲度測量設備
晶片膜厚自動測量及分類機
晶片自動分類機
晶片方塊電阻自動測試機
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聯(lián)系我們
service@bjctoe.com
010-80125950
產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
通過特定波長激光激發(fā)指定材料,獲得熒光光譜,對熒光光譜進行采集并后處理呈現(xiàn)熒光各項特征。波長覆蓋紫外到近紅外(200-2500nm),可對2-12寸外延片進行測量。
聯(lián)系:
北京中拓光電科技有限公司
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