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應用案例
PL熒光光譜測量應用案例
自動晶片激光打標機應用案例
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備應用案例
晶片膜厚自動測量及分類機應用案例
產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
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晶片方塊電阻自動測試機
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聯(lián)系我們
service@bjctoe.com
010-80125950
產(chǎn)品介紹
晶片方塊電阻自動測試機
采用電渦流法實現(xiàn)晶片表面方塊電阻及體電阻的自動測量。
聯(lián)系:
北京中拓光電科技有限公司
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