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產品介紹
晶片膜厚自動測量及分類機

  多種解決方案實現多種材料,多層材料的表面薄膜厚度及微區(qū)薄膜厚度的自動測量。

不同波長下干涉譜測量膜厚的配置方案

                                        膜厚干涉原理                                                                                白光干涉譜


                                       膜厚測量模塊                                                                            顯微膜厚測量模塊


                                             中紅外光源                                                                            中紅外光譜儀



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